有了ESD，迅速让静电导到PCB板的主GND上，可以消除一定能力的静电。
2、系统地与机壳地分离的电子科技类产品，内部电路也不会设计成与机壳连通，所以干扰进入内部电路主要是耦合方式。通过耦合方式进入电子科技类产品内部的情况，与机壳上建立的dv/dt，接地线上建立的di/dt有关，与机壳上建立的电压绝对值不直接相关。这也是大机箱的电子设备不易受干扰干扰的原因，对地电容比较大，不易建立较大的dV/dt和di/dt。
3、如果耦合是干扰的主要路径，我们大家可以采取一些措施，措施可以是很多不同的方法。一般来说耦合路径会比较多，有一些还不易察觉，直接采取阻断耦合路径的方法不易实现，除非通过结构分析、干扰分析发现了明确的结构问题或者路径。拉开距离能减小耦合电容，间隙衬垫聚四氟乙烯等材料也能减小电容，由此减少耦合强度。
B.一根高阻抗的输入线与一根本来没有干扰的导线捆扎走线，而这个根本就没有干扰的导线有一段比较靠近机壳，这也会有耦合ESD的问题。
4、或多或少总有一部分干扰经耦合进入内部电路，是否能处理好这些耦合进来的干扰；系统接地是关键。
连续的、靠得住的系统接地，可以承载内部电路不受外部干扰，不管系统地是否实际接大地。参考上图中的耦合路径分析箭头路径分析。
在我进行ESD的内部结构电路的PCB分析时，我们大家可以看到在IO线端口见到电阻电容的设计，这些电容可以把耦合过来的干扰导入系统地。
注意：对于高频电路，电容对干扰和有用信号同时起作用，所以不能用于高频信号电路。但使用TVS器件时（较小的结电容）电压高于信号电压，基本对有用信号没有影响。
有必要说明一下：当信号电平为0时，从0电平开始干扰信号就需要消耗能量给电容充电，适当电容量能吸收掉干扰能量，使干扰电平达不到逻辑动作电平，电子科技类产品电路不受干扰。TVS在这样的一个过程中基本不起作用，即便干扰电平已达到逻辑动作电平。
很多时候由于干扰能量是吸收不完会穿过PCB，会通过CPUMCU，如上图中的箭头所示路径！
所以后面我再分析电子科技类产品内部ESD的问题设计时知道：一方面我们要规划干扰在PCB上的路径（注意这是在布板PCB板时需要提前规划）；另一方面要尽量控制干扰幅度。
5、空气放电主要是空间的辐射成分，已没明确的路径，对于容性耦合情况，受扰部位会有较大面积和较近的距离，不太容易识别路径，所以从敏感部位入手比较容易。
实际的ESD都是非常高电压的空气放电模式，空间放电于接缝、插座、按键等；
在对金属壳体做接触放电通过的前提下，需要对这些缝隙做空气放电，也许会出现干扰情况如:显示闪烁、误读按键、机器重启复位等。
我们要首先排除放电火花立即进入电子科技类产品或设备的情况，干扰过程相对简单，我们大家可以寻找一下放电怎么会绕过壳体！
接触放电于金属壳体，产生比较大的di/dt，在结构件接地良好的情况下，仅有微弱的dv/dt。空气放电于金属壳体，枪头有较大dv/dt，枪前部高压部分体积越大，这个dv/dt越强;这个dv/dt很可能超过接触放电在接地不良金属构件上产生的大的电压V;
同时火花有较大的di/dt，也就是说有突变电场与磁场。突变电场以近场容性耦合的方式从绝缘构件部位耦合到内部电路，突变磁场以近场感性耦合方式穿透绝缘件进入内部电路。
1、外壳和结构件：金属以及可导电的电镀材料等，属于容易吸引和聚集静电的材料；ESD要求很高的项目要尽可能避开使用这些材料。
2、必须使用导体材料时：结构上要事先预留有效而布局均匀的接地点；一般来说，顶针或者金属弹片的接地效果优于导电泡棉和导电布。
4、外壳上的金属件，距离器件和走线、堆叠上避免器件于孔、缝边；如果没办法避免的话，则要在组装上想办法堵；常见的做法有粘贴高温胶带或者防静电胶带等阻隔；所有结构设计需要留有增加隔离片的空间。
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